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    Advanced Computing in Electron Microscopy
    by Earl J. Kirkland
    3rd ed. 2020. - Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2020
    Online Monographie, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    Springer Physics & Astronomy 2020 (Volltext)
    Volltext
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    Nanoscale AFM and TEM Observations of Elementary Dislocation Mechanisms
    by Jozef Veselý
    Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2017
    Online Monographie, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    Springer Physics & Astronomy 2017 (Volltext)
    Volltext
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    Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices
    by Umberto Celano
    Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2016
    Online Monographie, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    Springer Physics & Astronomy 2016 (Volltext)
    Volltext
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    Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation
    edited by Rongming Wang, Chen Wang, Hongzhou Zhang, Jing Tao, Xuedong Bai
    Singapore: Springer Singapore, Imprint: Springer, 2018
    Online Sammelwerk, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    Springer Physics & Astronomy 2018 (Volltext)
    Volltext
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    Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems
    edited by Youichi Murakami, Sumio Ishihara
    Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, Imprint: Springer, 2017
    Online Sammelwerk, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    Springer Physics & Astronomy 2017 (Volltext)
    Volltext
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    Ordering Phenomena in Rare-Earth Nickelate Heterostructures
    by Matthias Hepting
    Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2017
    Online Monographie, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    Springer Physics & Astronomy 2017 (Volltext)
    Volltext
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    3rd International Multidisciplinary Microscopy and Microanalysis Congress (InterM): Proceedings, Oludeniz, Turkey, 19-23 October 2015
    edited by Ahmet Yavuz Oral, Zehra Banu Bahsi Oral
    Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2017
    Online Konferenzschrift, Sammelwerk, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    Springer Physics & Astronomy 2017 (Volltext)
    Volltext
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Electron Paramagnetic Resonance Spectroscopy: Applications
    by Patrick Bertrand
    1st ed. 2020. - Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2020
    Online Monographie, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    Springer Physics & Astronomy 2020 (Volltext)
    Volltext
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Electron Paramagnetic Resonance Spectroscopy: Fundamentals
    by Patrick Bertrand
    1st ed. 2020. - Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2020
    Online Monographie, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    Springer Physics & Astronomy 2020 (Volltext)
    Volltext
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    Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization
    edited by Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel
    Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2018
    Online Sammelwerk, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    Springer Physics & Astronomy 2018 (Volltext)
    Volltext
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    Nanoscale Photonic Imaging
    edited by Tim Salditt, Alexander Egner, D. Russell Luke
    1st ed. 2020. - Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2020
    Online Sammelwerk, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    Springer Physics & Astronomy 2020 (Volltext)
    Springer Nature Open Access Bücher (Volltext) Volltext
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    Scanning Probe Microscopy: The Lab on a Tip
    by Ernst Meyer, Roland Bennewitz, Hans J. Hug
    2nd ed. 2021. - Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2021
    Online Monographie, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    Springer Physics & Astronomy 2021 (Volltext)
    Volltext
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    Fabrication and Physical Properties of Novel Two-dimensional Crystal Materials Beyond Graphene: Germanene, Hafnene and PtSe2
    by Linfei Li
    1st ed. 2020. - Singapore: Springer Singapore, Imprint: Springer, 2020
    Online Monographie, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    Springer Physics & Astronomy 2020 (Volltext)
    Volltext
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    Optical Characterization of Thin Solid Films
    edited by Olaf Stenzel, Miloslav Ohlídal
    Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2018
    Online Sammelwerk, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    Springer Physics & Astronomy 2018 (Volltext)
    Volltext
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    Engineering of Scintillation Materials and Radiation Technologies: Proceedings of ISMART 2016
    edited by Mikhail Korzhik, Alexander Gektin
    Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2017
    Online Sammelwerk, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    Springer Physics & Astronomy 2017 (Volltext)
    Volltext
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Modern Mössbauer Spectroscopy: New Challenges Based on Cutting-Edge Techniques
    edited by Yutaka Yoshida, Guido Langouche
    1st ed. 2021. - Singapore: Springer Singapore, Imprint: Springer, 2021
    Online Sammelwerk, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    Springer Physics & Astronomy 2021 (Volltext)
    Volltext

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