CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability

by Jiann-Shiun Yuan

Singapore: Springer Singapore, Imprint: Springer, 2016

Online Monographie, Elektronische Ressource - 1 Online-Ressource (VI, 106 p. 101 illus)

Zugriff:

Springer Engineering 2016 (Volltext)

Titel:	CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability
Verantwortlichkeitsangabe:	by Jiann-Shiun Yuan
Autor/in / Beteiligte Person:	Yuan, Jiann-Shiun
Lokaler Link:	Springer Engineering 2016 (Volltext)
Link:	Volltext
Verwandtes Werk:	SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology
Veröffentlichung:	Singapore: Springer Singapore, Imprint: Springer, 2016
Medientyp:	Monographie
Datenträgertyp:	Elektronische Ressource
Umfang:	1 Online-Ressource (VI, 106 p. 101 illus)
ISBN:	9789811008849; 9789811008825 Print
DOI:	10.1007/978-981-10-0884-9
Schlagwort:	Engineering Electronic circuits Microwaves Optical engineering
Sonstiges:	Online-Ressource [Kann nicht per Fernleihe bestellt werden!] Gesamttitelangabe: SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology hbz Verbund-ID: HT018959627

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