Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM
2nd ed. 2016. - Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2016
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Monographie, Elektronische Ressource
- 1 Online-Ressource (XI, 196 p. 124 illus., 15 illus. in color)
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Titel: |
Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM
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Verantwortlichkeitsangabe: | by R.F. Egerton |
Autor/in / Beteiligte Person: | Egerton, R.F. |
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Ausgabe: | 2nd ed. 2016 |
Veröffentlichung: | Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2016 |
Medientyp: | Monographie |
Datenträgertyp: | Elektronische Ressource |
Umfang: | 1 Online-Ressource (XI, 196 p. 124 illus., 15 illus. in color) |
ISBN: | 9783319398778 |
DOI: | 10.1007/978-3-319-39877-8 |
Schlagwort: |
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Sonstiges: |
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