Transmission Electron Microscopy: Diffraction, Imaging, and Spectrometry

edited by C. Barry Carter, David B. Williams

Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2016

Online Sammelwerk, Elektronische Ressource - 1 Online-Ressource (XXXIII, 518 p. 300 illus)

Zugriff:

Springer Chemistry & Materials Science 2016 (Volltext)

Titel:	Transmission Electron Microscopy: Diffraction, Imaging, and Spectrometry
Verantwortlichkeitsangabe:	edited by C. Barry Carter, David B. Williams
Autor/in / Beteiligte Person:	Carter, C. Barry ; Williams, David B.
Lokaler Link:	Springer Chemistry & Materials Science 2016 (Volltext)
Link:	Volltext
Veröffentlichung:	Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2016
Medientyp:	Sammelwerk
Datenträgertyp:	Elektronische Ressource
Umfang:	1 Online-Ressource (XXXIII, 518 p. 300 illus)
ISBN:	9783319266510
DOI:	10.1007/978-3-319-26651-0
Schlagwort:	Materials science Spectroscopy Solid state physics Nanoscale science Nanoscience Nanostructures Microscopy Continuum mechanics Elektronenmikroskopie Werkstoff
Sonstiges:	Online-Ressource [Kann nicht per Fernleihe bestellt werden!] Erscheint auch als: Druck-Ausgabe, ISBN 9783319266497 hbz Verbund-ID: HT019079954

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