Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience
New York, NY: Springer New York, Imprint: Springer, 2017
Online
Monographie, Lehrbuch, Elektronische Ressource
- 1 Online-Ressource (XXVI, 729 p. 310 illus., 218 illus. in color)
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Titel: |
Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience
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Verantwortlichkeitsangabe: | by Jian Min Zuo, John C.H. Spence |
Autor/in / Beteiligte Person: | Zuo, Jian Min ; Spence, John C.H. |
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Veröffentlichung: | New York, NY: Springer New York, Imprint: Springer, 2017 |
Medientyp: | Monographie, Lehrbuch |
Datenträgertyp: | Elektronische Ressource |
Umfang: | 1 Online-Ressource (XXVI, 729 p. 310 illus., 218 illus. in color) |
ISBN: | 9781493966073 |
DOI: | 10.1007/978-1-4939-6607-3 |
Schlagwort: |
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Sonstiges: |
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