Helium Ion Microscopy

edited by Gregor Hlawacek, Armin Gölzhäuser

Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2016

Online Sammelwerk, Elektronische Ressource - 1 Online-Ressource (XXIII, 526 p. 320 illus., 204 illus. in color)

Zugriff:

Springer Chemistry & Materials Science 2016 (Volltext)

Titel:	Helium Ion Microscopy
Verantwortlichkeitsangabe:	edited by Gregor Hlawacek, Armin Gölzhäuser
Autor/in / Beteiligte Person:	Hlawacek, Gregor ; Gölzhäuser, Armin
Lokaler Link:	Springer Chemistry & Materials Science 2016 (Volltext)
Link:	Volltext
Verwandtes Werk:	NanoScience and Technology
Veröffentlichung:	Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2016
Medientyp:	Sammelwerk
Datenträgertyp:	Elektronische Ressource
Umfang:	1 Online-Ressource (XXIII, 526 p. 320 illus., 204 illus. in color)
ISBN:	9783319419909
DOI:	10.1007/978-3-319-41990-9
Schlagwort:	Physics Surfaces (Physics) Interfaces (Physical sciences) Thin films Spectroscopy Microscopy Nanotechnology Materials / Surfaces
Sonstiges:	Online-Ressource [Kann nicht per Fernleihe bestellt werden!] Gesamttitelangabe: NanoScience and Technology Erscheint auch als: Druck-Ausgabe, ISBN 9783319419886 hbz Verbund-ID: HT019138537

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