Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems

edited by Youichi Murakami, Sumio Ishihara

Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, Imprint: Springer, 2017

Online Sammelwerk, Elektronische Ressource - 1 Online-Ressource (VII, 241 p. 151 illus., 25 illus. in color)

Zugriff:

Springer Physics & Astronomy 2017 (Volltext)

Titel:	Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems
Verantwortlichkeitsangabe:	edited by Youichi Murakami, Sumio Ishihara
Autor/in / Beteiligte Person:	Murakami, Youichi ; Ishihara, Sumio
Lokaler Link:	Springer Physics & Astronomy 2017 (Volltext)
Link:	Volltext
Verwandtes Werk:	Springer Tracts in Modern Physics
Veröffentlichung:	Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, Imprint: Springer, 2017
Medientyp:	Sammelwerk
Datenträgertyp:	Elektronische Ressource
Umfang:	1 Online-Ressource (VII, 241 p. 151 illus., 25 illus. in color)
ISBN:	9783662532270
DOI:	10.1007/978-3-662-53227-0
Schlagwort:	Physics Condensed matter Spectroscopy Microscopy Nanotechnology Materials science
Sonstiges:	Online-Ressource [Kann nicht per Fernleihe bestellt werden!] Gesamttitelangabe: Springer Tracts in Modern Physics ; 269 Erscheint auch als: Druck-Ausgabe, ISBN 9783662532256 hbz Verbund-ID: HT019199816

Klicken Sie ein Format an und speichern Sie dann die Daten oder geben Sie eine Empfänger-Adresse ein und lassen Sie sich per Email zusenden.

BibTeX Citavi, JabRef, u.a.
(Literaturverwaltung)

PDF kein Volltext!
(Merkzettel, Notizen)

RIS Endnote, Citavi u.a.
(Literaturverwaltung)

MODS
(XML zur Weiterverarbeitung)

oder

Wählen Sie das für Sie passende Zitationsformat und kopieren Sie es dann in die Zwischenablage, lassen es sich per Mail zusenden oder speichern es als PDF-Datei.

Gewünschter Zitations-Stil:

oder

Bitte prüfen Sie, ob die Zitation formal korrekt ist, bevor Sie sie in einer Arbeit verwenden. Benutzen Sie gegebenenfalls den "Exportieren"-Dialog, wenn Sie ein Literaturverwaltungsprogramm verwenden und die Zitat-Angaben selbst formatieren wollen.