Testing of Interposer-Based 2.5D Integrated Circuits

by Ran Wang, Krishnendu Chakrabarty

Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2017

Online Monographie, Elektronische Ressource - 1 Online-Ressource (XIV, 182 p. 118 illus., 102 illus. in color)

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Springer Engineering 2017 (Volltext)

Titel:	Testing of Interposer-Based 2.5D Integrated Circuits
Verantwortlichkeitsangabe:	by Ran Wang, Krishnendu Chakrabarty
Autor/in / Beteiligte Person:	Wang, Ran ; Chakrabarty, Krishnendu
Lokaler Link:	Springer Engineering 2017 (Volltext)
Link:	Volltext
Veröffentlichung:	Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2017
Medientyp:	Monographie
Datenträgertyp:	Elektronische Ressource
Umfang:	1 Online-Ressource (XIV, 182 p. 118 illus., 102 illus. in color)
ISBN:	9783319547145
DOI:	10.1007/978-3-319-54714-5
Schlagwort:	Engineering Logic design Microprocessors Electronic circuits
Sonstiges:	Online-Ressource [Kann nicht per Fernleihe bestellt werden!] Erscheint auch als: Druck-Ausgabe, ISBN 9783319547138 hbz Verbund-ID: HT019288154

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