Electron Nano-Imaging: Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM

by Nobuo Tanaka

Tokyo: Springer Japan, Imprint: Springer, 2017

Online Monographie, Elektronische Ressource - 1 Online-Ressource (XXVIII, 333 p. 129 illus., 22 illus. in color)

Zugriff:

Springer Chemistry & Materials Science 2017 (Volltext)

Titel:	Electron Nano-Imaging: Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM
Verantwortlichkeitsangabe:	by Nobuo Tanaka
Autor/in / Beteiligte Person:	Tanaka, Nobuo
Lokaler Link:	Springer Chemistry & Materials Science 2017 (Volltext)
Link:	Volltext
Veröffentlichung:	Tokyo: Springer Japan, Imprint: Springer, 2017
Medientyp:	Monographie
Datenträgertyp:	Elektronische Ressource
Umfang:	1 Online-Ressource (XXVIII, 333 p. 129 illus., 22 illus. in color)
ISBN:	9784431565024
DOI:	10.1007/978-4-431-56502-4
Schlagwort:	Materials science Spectroscopy Nanoscale science Nanoscience Nanostructures Microscopy
Sonstiges:	Online-Ressource [Kann nicht per Fernleihe bestellt werden!] Erscheint auch als: Druck-Ausgabe, ISBN 9784431565000 hbz Verbund-ID: HT019313975

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