Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization
Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2018
Online
Sammelwerk, Elektronische Ressource
- 1 Online-Ressource (XXIV, 521 p. 234 illus., 194 illus. in color)
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Titel: |
Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization
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Verantwortlichkeitsangabe: | edited by Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel |
Autor/in / Beteiligte Person: | Sadewasser, Sascha ; Glatzel, Thilo |
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Verwandtes Werk: | |
Veröffentlichung: | Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2018 |
Medientyp: | Sammelwerk |
Datenträgertyp: | Elektronische Ressource |
Umfang: | 1 Online-Ressource (XXIV, 521 p. 234 illus., 194 illus. in color) |
ISBN: | 9783319756875 |
DOI: | 10.1007/978-3-319-75687-5 |
Schlagwort: |
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Sonstiges: |
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