Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization

edited by Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel

Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2018

Online Sammelwerk, Elektronische Ressource - 1 Online-Ressource (XXIV, 521 p. 234 illus., 194 illus. in color)

Zugriff:

Springer Physics & Astronomy 2018 (Volltext)

Titel:	Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization
Verantwortlichkeitsangabe:	edited by Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel
Autor/in / Beteiligte Person:	Sadewasser, Sascha ; Glatzel, Thilo
Lokaler Link:	Springer Physics & Astronomy 2018 (Volltext)
Link:	Volltext
Verwandtes Werk:	Springer Series in Surface Sciences
Veröffentlichung:	Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2018
Medientyp:	Sammelwerk
Datenträgertyp:	Elektronische Ressource
Umfang:	1 Online-Ressource (XXIV, 521 p. 234 illus., 194 illus. in color)
ISBN:	9783319756875
DOI:	10.1007/978-3-319-75687-5
Schlagwort:	Physics Physical measurements Measurement Spectroscopy Microscopy Nanotechnology Materials science Materials / Surfaces Thin films Kelvin-Sonde Rasterkraftmikroskopie
Sonstiges:	Online-Ressource [Kann nicht per Fernleihe bestellt werden!] Gesamttitelangabe: Springer Series in Surface Sciences ; 65 Erscheint auch als: Druck-Ausgabe, ISBN 9783319756868 hbz Verbund-ID: HT019641066

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