Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films

edited by Karsten Hinrichs, Klaus-Jochen Eichhorn

2nd ed. 2018. - Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2018

Online Sammelwerk, Elektronische Ressource - 1 Online-Ressource (XXVI, 547 p. 314 illus., 156 illus. in color)

Zugriff:

Springer Physics & Astronomy 2018 (Volltext)

Titel:	Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films
Verantwortlichkeitsangabe:	edited by Karsten Hinrichs, Klaus-Jochen Eichhorn
Autor/in / Beteiligte Person:	Hinrichs, Karsten ; Eichhorn, Klaus-Jochen
Lokaler Link:	Springer Physics & Astronomy 2018 (Volltext)
Link:	Volltext
Verwandtes Werk:	Springer Series in Surface Sciences
Ausgabe:	2nd ed. 2018
Veröffentlichung:	Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2018
Medientyp:	Sammelwerk
Datenträgertyp:	Elektronische Ressource
Umfang:	1 Online-Ressource (XXVI, 547 p. 314 illus., 156 illus. in color)
ISBN:	9783319758954
DOI:	10.1007/978-3-319-75895-4
Schlagwort:	Physics Physical chemistry Surfaces (Physics) Interfaces (Physical sciences) Thin films Materials science Materials / Surfaces
Sonstiges:	Online-Ressource [Kann nicht per Fernleihe bestellt werden!] Gesamttitelangabe: Springer Series in Surface Sciences ; 52 Erscheint auch als: Druck-Ausgabe, ISBN 9783319758947 hbz Verbund-ID: HT019703255

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