VLSI Design and Test for Systems Dependability

edited by Shojiro Asai

Tokyo: Springer Japan, Imprint: Springer, 2019

Online Sammelwerk, Elektronische Ressource - 1 Online-Ressource (XVII, 800 p. 585 illus., 352 illus. in color)

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Springer Engineering 2019 (Volltext)

Titel:	VLSI Design and Test for Systems Dependability
Verantwortlichkeitsangabe:	edited by Shojiro Asai
Autor/in / Beteiligte Person:	Asai, Shojiro
Lokaler Link:	Springer Engineering 2019 (Volltext)
Link:	Volltext
Veröffentlichung:	Tokyo: Springer Japan, Imprint: Springer, 2019
Medientyp:	Sammelwerk
Datenträgertyp:	Elektronische Ressource
Umfang:	1 Online-Ressource (XVII, 800 p. 585 illus., 352 illus. in color)
ISBN:	9784431565949
DOI:	10.1007/978-4-431-56594-9
Schlagwort:	Engineering Computer security Electronic circuits Engineering design Quality control Reliability Industrial safety
Sonstiges:	Online-Ressource [Kann nicht per Fernleihe bestellt werden!] Printed edition: 9784431565925 hbz Verbund-ID: HT019766774

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