Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2019
Online
Monographie, Elektronische Ressource
- 1 Online-Ressource (X, 135 p. 34 illus)
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Titel: |
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
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Verantwortlichkeitsangabe: | by Ireneusz Mrozek |
Autor/in / Beteiligte Person: | Mrozek, Ireneusz |
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Veröffentlichung: | Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2019 |
Medientyp: | Monographie |
Datenträgertyp: | Elektronische Ressource |
Umfang: | 1 Online-Ressource (X, 135 p. 34 illus) |
ISBN: | 9783319912042 |
DOI: | 10.1007/978-3-319-91204-2 |
Schlagwort: |
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Sonstiges: |
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