Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits

by S. Jayanthy, M.C. Bhuvaneswari

Singapore: Springer Singapore, Imprint: Springer, 2019

Online Monographie, Elektronische Ressource - 1 Online-Ressource (XI, 156 p. 49 illus., 7 illus. in color)

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Springer Engineering 2019 (Volltext)

Titel:	Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
Verantwortlichkeitsangabe:	by S. Jayanthy, M.C. Bhuvaneswari
Autor/in / Beteiligte Person:	Jayanthy, S. ; Bhuvaneswari, M.C.
Lokaler Link:	Springer Engineering 2019 (Volltext)
Link:	Volltext
Veröffentlichung:	Singapore: Springer Singapore, Imprint: Springer, 2019
Medientyp:	Monographie
Datenträgertyp:	Elektronische Ressource
Umfang:	1 Online-Ressource (XI, 156 p. 49 illus., 7 illus. in color)
ISBN:	9789811324932
DOI:	10.1007/978-981-13-2493-2
Schlagwort:	Systems engineering Microprogramming Operating systems (Computers) Logic design
Sonstiges:	Online-Ressource [Kann nicht per Fernleihe bestellt werden!] Printed edition: 9789811324925 Printed edition: 9789811324949 hbz Verbund-ID: HT019823601

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