Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials

by Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin C. Schubert

3rd ed. 2018. - Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2018

Online Monographie, Elektronische Ressource - 1 Online-Ressource (XXI, 321 p. 126 illus., 68 illus. in color)

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Springer Physics & Astronomy 2018 (Volltext)

Titel:	Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Verantwortlichkeitsangabe:	by Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin C. Schubert
Autor/in / Beteiligte Person:	Breitenstein, Otwin ; Warta, Wilhelm ; Schubert, Martin C.
Lokaler Link:	Springer Physics & Astronomy 2018 (Volltext)
Link:	Volltext
Verwandtes Werk:	Springer Series in Advanced Microelectronics
Ausgabe:	3rd ed. 2018
Veröffentlichung:	Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2018
Medientyp:	Monographie
Datenträgertyp:	Elektronische Ressource
Umfang:	1 Online-Ressource (XXI, 321 p. 126 illus., 68 illus. in color)
ISBN:	9783319998251
DOI:	10.1007/978-3-319-99825-1
Schlagwort:	Surfaces (Physics) Microwaves Materials
Sonstiges:	Online-Ressource [Kann nicht per Fernleihe bestellt werden!] Gesamttitelangabe: Springer Series in Advanced Microelectronics ; 10 Printed edition: 9783319998244 Printed edition: 9783319998268 hbz Verbund-ID: HT019957639

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