Control Charts and Machine Learning for Anomaly Detection in Manufacturing

edited by Kim Phuc Tran

1st ed. 2022. - Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2022

Online Sammelwerk, Elektronische Ressource - 1 Online-Ressource (VI, 269 p. 67 illus., 38 illus. in color)

Zugriff:

Springer Engineering 2022 (Volltext)

Titel:	Control Charts and Machine Learning for Anomaly Detection in Manufacturing
Verantwortlichkeitsangabe:	edited by Kim Phuc Tran
Autor/in / Beteiligte Person:	Tran, Kim Phuc
Lokaler Link:	Springer Engineering 2022 (Volltext)
Link:	Volltext
Verwandtes Werk:	Springer Series in Reliability Engineering
Ausgabe:	1st ed. 2022
Veröffentlichung:	Cham: Springer International Publishing, Imprint: Springer, 2022
Medientyp:	Sammelwerk
Datenträgertyp:	Elektronische Ressource
Umfang:	1 Online-Ressource (VI, 269 p. 67 illus., 38 illus. in color)
ISBN:	9783030838195
DOI:	10.1007/978-3-030-83819-5
Schlagwort:	Manufactures Engineering economics Engineering economy Machine learning Statistics Computer engineering Internet of things Embedded computer systems
Sonstiges:	Online-Ressource [Kann nicht per Fernleihe bestellt werden!] Gesamttitelangabe: Springer Series in Reliability Engineering Printed edition: 9783030838188 Printed edition: 9783030838201 Printed edition: 9783030838218 hbz Verbund-ID: HT021062159

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